為期兩天的中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體封測(cè)大會(huì)暨封測(cè)“年度最佳品牌獎(jiǎng)”頒獎(jiǎng)典禮圓滿結(jié)束。祝賀上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司獲得“2022-2023中國(guó)半導(dǎo)體封測(cè)設(shè)備最佳品牌獎(jiǎng)”。

本次大會(huì)上海柏毅展出了適用于半導(dǎo)體后道測(cè)試的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備PCT高壓加速老化測(cè)試箱（又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱、PCT試驗(yàn)箱等）、溫度循環(huán)試驗(yàn)箱（快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱）。

PCT高壓加速老化測(cè)試也稱為壓力鍋蒸煮試驗(yàn)或是飽和蒸汽試驗(yàn),將被測(cè)品放置在嚴(yán)苛的溫度、飽和濕度(100%RH飽和水蒸氣）及壓力環(huán)境下測(cè)試,檢測(cè)被測(cè)品耐高濕能力。針對(duì)PCB&FPC用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等試驗(yàn)?zāi)康?。如果被測(cè)品是半導(dǎo)體的話，則用來測(cè)試半導(dǎo)體封裝的抗?jié)駳饽芰Α⒈粶y(cè)品放置在嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝異常,濕氣會(huì)通過膠體或膠體與導(dǎo)線架之間的接口滲入封裝體中。常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品密封性能的檢測(cè)。

快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱又稱快速溫變?cè)囼?yàn)箱、快速熱循環(huán)試驗(yàn)箱、快速溫變高低溫試驗(yàn)箱、溫度快速循環(huán)箱、ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、高低溫濕熱快速變化試驗(yàn)箱等?？焖贉囟妊h(huán)試驗(yàn)箱可實(shí)現(xiàn)高溫和低溫在設(shè)定的時(shí)間頻率內(nèi)進(jìn)行快速切換，檢測(cè)被測(cè)品在溫度快速變化情況下的可靠性。